2018-09-07
汇聚国内外光电新科技的第二十届中国国际光电博览会（CIOE2018），正在深圳（9月5日-8日）隆重举行，来自全球1700多家光电企业携全新科技和产品亮相于深圳会展中心。开幕首日观众人次达44701人次，同比增长31.7%，盛况空前。
展会上，中图仪器先进的精密测量仪器吸引了众多客户的目光，其中最耀眼的是SuperView W1光学3D表面轮廓仪。
SuperView W1光学3D表面轮廓仪广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。
观展的客户们围绕在SuperView W1光学3D表面轮廓仪前，有的仔细翻看宣传资料，有的认真倾听工作人员讲解，观看工作人员现场操作，并不时提出相关问题与工作人员详细交流，还有的客户拿来样品交与工作人员现场检测。
通过与我司工作人员交流以及观看现场操作,客户们对SuperView W1光学3D表面轮廓仪的性能参数以及操作使用十分满意，希望展会后进一步洽谈沟通，商讨合作！
如果您想近距离接触了解SuperView W1光学3D表面轮廓仪，请莅临我司展位-深圳会展中心9号馆9E16，我们在等您！
